книга

Методы диагностики и анализа наносистем : лабораторный практикум

Здесь можно купить книгу "Методы диагностики и анализа наносистем : лабораторный практикум" в печатном или электронном виде. Также, Вы можете прочесть аннотацию, цитаты и содержание, ознакомиться и оставить отзывы (комментарии) об этой книге.

Форматы: PDF

Издательство: Северо-Кавказский Федеральный университет (СКФУ)

Год: 2023

Место издания: Ставрополь

Страниц: 186

Артикул: 105709

Возрастная маркировка: 16+

Электронная книга

930 ₽

Купить и скачать

Читать фрагмент

Аннотация

Краткая аннотация книги "Методы диагностики и анализа наносистем"

Пособие составлено в соответствии с требованиями Федерального государственного образовательного стандарта высшего образования (ФГОС ВО 3++) в соответствии с рабочим учебным планом и рабочей программой дисциплины «Методы диагностики и анализа наносистем»; в нем представлены лабораторные работы, содержащиe краткие теоретические сведения по темам работ, методические указания по их выполнению, планы составления отчета, контрольные вопросы и задания по изучаемой теме, рекомендуемую литературу. Предназначено для студентов, обучающихся по направлению подготовки бакалавров 28.03.02 Наноинженерия, направленности (профиль) «Диагностика материалов и наносистем в промышленности».

Содержание

Содержание книги "Методы диагностики и анализа наносистем : лабораторный практикум"

Предисловие
Лабораторные работы
1. Лабораторный практикум по технике безопасности в аналитической лаборатории
2. Технология подготовки сканирующих зондовых микроскопов NTEGRA «Aura»; «Prima»; «Максимум» к работе
3. Подготовка и технология работы сканирующих зондовых микроскопов NTEGRA «Aura»; «Prima»; «Максимум», в полуконтактном режиме сканирования
4. Технология получения изображения в атомно-силовой микроскопии с помощью учебно-научного комплекса НАНОЭДЮКАТОР II
5. Количественный анализ и обработка полученного СЗМ изображения с помощью программного обеспечения атомно-силового микроскопа НАНОЭДЮКАТОР II
6. Эллипсометрические методы исследования толщины тонких пленок
7. Методика исследования концентрации связанного водорода с помощью ИК Фурье-спектрометра ФСМ-1201; 1211
8. Методика анализа определение оптической ширины запрещенной зоны с помощью спектрофотометра СФ-56
Приложение А. Форма протокола определения оптической ширины запрещенной зоны
9. Идентификация структуры материала методом комбинационного рассеяния света
Приложение А (обязательное). Типичные спектры КРС углеродсодержащих пленок

Отзывы

Все отзывы о книге Методы диагностики и анализа наносистем : лабораторный практикум

Чтобы оставить отзыв, зарегистрируйтесь или войдите

Отрывок из книги Методы диагностики и анализа наносистем : лабораторный практикум

- 69 -Лабораторная работа 44. Технология получения изображения в атомно-силовой микроскопии с помощью учебно-научного комплекса НАНОЭДЮКАТОР IIЦель работы: изучение основ зондовой микроскопии, по-лучение навыков работы с методами сканирующего зондового микроскопа СЗМ НАНОЭДЮКАТОР II. В результате выполнения лабораторной работы студенты должны: • знать: основы сканирующей зондовой микроскопии, ос-новные компоненты сканирующего зондового микроско-па, виды датчиков, сканеры, Систему обратной связи и конструкцию СЗМ НАНОЭДЮКАТОР II. • уметь: использовать в профессиональной деятельности знания о сущности практической задачи, планировать и проводить эксперементальные исследования, обрабаты-вать, анализировать и предоставлять результаты изме-рений, выстраивать полученные знания и умения в уже имеющеюся систему знаний, привлекать к решению практической задачи междисциплинарные знания.• владеть: навыками работы с методами сканирующего зондового микроскопа. Образец: фрагмент DVD (образец для АСМ из комплекта образцов для НАНОЭДЮКАТОРА).Теоретическая часть В СЗМ НАНОЭДЮКАТОР II используется принцип, схожий с полуконтактной АСМ, но при этом используется другой, от-личный от классического, датчик (см. далее разделы «Виды дат-чиков» и «Конструкция СЗМ НАНОЭДЮКАТОР II»).Еще одной особенностью СЗМ является измерение других сигналов с датчиков. Такие сигналы, в отличие от сигнала, ис-пользуемого в обратной связи, не поддерживаются постоянны-ми во время сканирования, а их изменение отражает изменение свойств поверхности. Такие методы можно назвать измеритель-ными. Например, МСМ (магнитно-силовая микроскопия), СЕМ

С книгой "Методы диагностики и анализа наносистем" читают