Методы исследования наноматериалов и наносистем

книга

Методы исследования наноматериалов и наносистем : лабораторный практикум

Здесь можно купить книгу "Методы исследования наноматериалов и наносистем : лабораторный практикум" в печатном или электронном виде. Также, Вы можете прочесть аннотацию, цитаты и содержание, ознакомиться и оставить отзывы (комментарии) об этой книге.

Форматы: PDF

Издательство: Северо-Кавказский Федеральный университет (СКФУ)

Год: 2022

Место издания: Ставрополь

Страниц: 174

Артикул: 105710

Возрастная маркировка: 16+

Электронная книга

870 ₽

Купить и скачать

Читать фрагмент

Аннотация

Краткая аннотация книги "Методы исследования наноматериалов и наносистем"

Практикум составлен в соответствии с требованиями Федерального государственного образовательного стандарта высшего образования (ФГОС ВО 3++), в соответствии с рабочим учебным планом и рабочей программой. В нем представлены лабораторные работы, содержащие краткие теоретические сведения по темам работ, методические указания по их выполнению, планы составления отчета, контрольные вопросы и задания по изучаемой теме, реко-мендуемую литературу. Предназначен для студентов, обучающихся по направлению подготовки бакалавров 28.03.02 Наноинженерия, направленности (профиль) «Нанотехнологии и наноматериалы».

Содержание

Содержание книги "Методы исследования наноматериалов и наносистем : лабораторный практикум"

Предисловие
1. Принципы работ зондовой нанолаборатории (ЗНЛ)NTEGRA
2. Технология подготовки к работе сканирующих зондовых микроскопов NTEGRA «Aura», «Prima»,«Максимум» в контактном режиме сканирования
3. Технологи подготовки к работе сканирующих зондовыхмикроскопов NTEGRA «Aura», «Prima», «Максимум» в полуконтактном режиме сканирования
4. Технология получения изображения методами сканирующей зондовой технологии
5. Обработка и количественный анализ изображения, полученного с помощью сканирующего зондового микроскопа
6. Определение толщины тонких пленок по коэффициентуотражения
7. Измерение концентрации связанного водорода по спектрам пропускания инфракрасного излучения
8. Определение оптической ширины запрещенной зоны (Eg)
ПРИЛОЖЕНИЕ А. Форма протокола определения оптической ширины запрещенной зоны
9. Измерение концентрации связанного водорода [H] и идентификация структуры материала методом комбинационного рассеяния света
ПРИЛОЖЕНИЕ А (обязательное). Типичные спектрыКРС углеродсодержащих пленок

Отзывы

Все отзывы о книге Методы исследования наноматериалов и наносистем : лабораторный практикум

Чтобы оставить отзыв, зарегистрируйтесь или войдите

Отрывок из книги Методы исследования наноматериалов и наносистем : лабораторный практикум

88 5. ОБРАБОТКА И КОЛИЧЕСТВЕННЫЙ АНАЛИЗИЗОБРАЖЕНИЯ, ПОЛУЧЕННОГО С ПОМОЩЬЮ СКАНИРУЮЩЕГО ЗОНДОВОГО МИКРОСКОПА Цель работы ‒ получить практические навыки в области обработки количественного анализа СЗМ изображений. В результате выполнения лабораторной работы студенты должны знать основы сканирующей зондовой микроскопии, основные ком-поненты сканирующего зондового микроскопа, виды датчиков, сканеры, систему обратной связи и конструкцию СЗМ НАНОЭДЮКАТОР II; уметь использовать в профессиональной деятельности знания о сущности практической задачи, планировать и проводить эксперимен-тальные исследования, обрабатывать, анализировать и предоставлять результаты измерений, выстраивать полученные знания и умения в уже имеющеюся систему знаний, привлекать к решению практической задачи междисциплинарные знания; владеть навыками работы с методами сканирующего зондового микроскопа. Теоретический материал Процесс сканирования поверхности в сканирующем зондовом микроскопе имеет сходство с движением электронного луча по экрану в электроннолучевой трубке телевизора. Зонд движется вдоль линии (строки) сначала в прямом, а потом в обратном направлении (строчная развертка), затем переходит на следующую строку (кадровая развертка). Движение зонда осуществляется с помощью сканера небольшими шагами под действием пилообраз-ных напряжений, формируемых цифро-аналоговыми преобразова-телями. Регистрация информации о рельефе поверхности произво-дится, как правило, на прямом проходе (рис. 5.1). Информация, полученная с помощью сканирующего зондово-го микроскопа, хранится в виде СЗМ кадра ‒ двумерного массива целых чисел aij (матрицы). Физический смысл данных чисел определяется той величи-ной, которая оцифровывалась в процессе сканирования. Каждому значению пары индексов ij соответствует определенная точка по-верхности в пределах поля сканирования. Координаты точек по-верхности вычисляются с помощью простого умножен...

С книгой "Методы исследования наноматериалов и наносистем" читают