Электронные измерения в нанотехнологиях и микроэлектронике

Содержание книги "Электронные измерения в нанотехнологиях и микроэлектронике "

Предисловие
Благодарности и адреса для переписки
1. Средства и объекты нанотехнологий
1.1. Переход от микротехнологии к нанотехнологии
1.2. Электронная и рентгеновская микроскопия
1.3. Компоненты интегральных микросхем
1.4. Интегральные микросхемы
1.5. Чудеса нанотехнологий
1.6. От фантастики к практике
2. Измерения на постоянном токе
2.1. Основные компоненты электронных схем
2.2. Источники электропитания и их имитаторы
2.3. Измерение параметров резистивных компонентов
2.4. Измерение сверхмалых постоянных токов и напряжений
2.5. Аксессуары, опции и средства интеграции приборов
2.6. Анализатор/источник постоянных напряжений Agilent N6705A
3. Измерения на переменном токе
3.1. Основные параметры переменного напряжения и тока
3.2. Измерение параметров переменного напряжения и тока
3.3. Параметры реактивных компонентов и цепей с ними
3.4. Измерение параметров реактивных компонентов
4. Измерительные генераторы сигналов
4.1. Аналоговые генераторы синусоидальных сигналов
4.2. Основы цифрового синтеза частоты и формы сигналов
4.3. ГСС с цифровым синтезом умеренной сложности
4.4. Векторные генераторы синусоидальных сигналов
4.5. Импульсные сигналы и принципы их генерации
4.6. Генераторы импульсов сверхмалой длительности
4.7. Аналоговые функциональные генераторы
4.8. Функциональные генераторы с цифровым синтезом выходных сигналов
4.9. Генераторы серии AFG3000 компании Tektronix
4.10. Программное обеспечение генераторов AFG3000
4.11. Программа NI Signal Express Tektronix Edition
4.12. Генераторы сигналов произвольной формы класса AWG
4.13. Генераторы цифровых сигналов произвольной формы (паттернов)
5. Современные электронные осциллографы
5.1. Закат аналоговой осциллографии
5.2. Основы построения и работы цифровых запоминающих осциллографов
5.3. «Бюджетные» цифровые запоминающие осциллографы
5.4. Цифровые осциллографы компании Tektronix
5.5. Цифровые осциллографы фирмы LeCroy
5.6. Цифровые осциллографы фирмы Agilent Technologies
5.7. Стробоскопические осциллографы
6. Искусство осциллографии
6.1. Аксессуары осциллографов и их применение
6.2. Согласованные широкополосные устройства
6.3. Активные осциллографические пробники
6.4. Специальные устройства подключения и фиксации пробников
6.5. Импульсная рефлектоскопия и рефлетометрия
6.6. Спектральный анализ с помощью цифровых осциллографов
6.7. Другие возможности современных осциллографов
6.8. Применение системы MATLAB
6.9. Математические операции с сигналами
6.10. Спектральный анализ реальных осциллограмм в MATLAB
6.11. Вейвлет-анализ реальных осциллограмм в MATLAB
7. Анализаторы сигналов, спектра и цепей
7.1. Введение в осциллографические анализаторы
7.2. Гетеродинные и векторные анализаторы спектра
7.3. Серийные цифровые анализаторы спектра
7.4. Анализаторы спектра реального времени
7.5. Примеры работы с анализатором Tektronix RSA 6114A
7.6. Анализаторы сигналов и источников сигналов
7.7. Векторные и скалярные анализаторы цепей
7.8. Аксессуары для анализаторов спектра
8. Последовательные и логические анализаторы, осциллографы смешанных сигналов
8.1. Последовательные анализаторы сигналов
8.2. Анализ логических состояний
8.3. Современные логические анализаторы
8.4. Осциллографы смешанных сигналов
8.5. Подключение логических анализаторов к испытуемому устройству
9. Исследование полупроводниковых приборов и интегральных микросхем
9.1. Основы измерения статических параметров полупроводниковых приборов
9.2. Источники/измерители фирмы Keithley для тестирования полупроводниковых приборов и микросхем
9.3. Снятие характеристик полевых транзисторов
9.4. Анализатор/характериограф силовых полупроводниковых приборов Agilent B1501A
9.5. Измерение радиочастотных параметров полупроводниковых приборов и микросхем
9.6. Измерение дифференциальных параметров
9.7. Измерения временных параметров полупроводниковых приборов
9.8. Тестирование интегральных микросхем
10. Измерение параметров оптико-электронных приборов
10.1. Типы, конструктивные особенности и назначение оптико-электронных приборов
10.2. Тестирование излучателей светового излучения
10.3. Тестирование импульсных лазерных излучателей
10.4. Тестирование фотодиодов и фототранзисторов
10.5. Исследование высокоскоростных излучателей и приемников света
10.6. Испытание световолоконных кабелей и линий передачи
10.7. Основы электронно-лазерной осциллографии
ЛИТЕРАТУРА