книга

Материаловедение : практикум

Здесь можно купить книгу "Материаловедение : практикум" в печатном или электронном виде. Также, Вы можете прочесть аннотацию, цитаты и содержание, ознакомиться и оставить отзывы (комментарии) об этой книге.

Автор: Василий Городниченко, Борис Давиденко, Валерий Исаев, Светлана Ржевская, Игорь Шведов, Геннадий Янченко

Форматы: PDF

Издательство: Логос

Год: 2006

Место издания: Москва

ISBN: 5-98704-041-8

Страниц: 276

Артикул: 21153

Электронная книга

250 ₽

Купить и скачать

Читать фрагмент

Аннотация

Краткая аннотация книги "Материаловедение"

Представлен комплекс лабораторных и практических работ, позволяющий изучить взаимосвязь состава, строения, структуры и свойств различных материалов, а также закономерности их изменения под тепловым, химическим, механическим и другим воздействиями и дать оценку возможности использования этих материалов в практике. Для студентов вузов, обучающихся по инженерно-техническим специальностям и направлениям. Может быть полезен аспирантам и инженерам.

Содержание

Содержание книги "Материаловедение : практикум"

Предисловие
1. Общие положения
1.1. Основные правила техники безопасности при работе в учебной лаборатории
1.2. Общие требования к порядку выполнения, оформлению и защите лабораторных и практических работ
1.3. Общие требования к расчету погрешностей измерений величин физических свойств материалов
2. Лабораторный практикум
2.1. Определение параметров элементарной ячейки поликристаллических веществ и материалов
2.2. Определение размера зерна поликристаллических материалов с применением оптической и электронной микроскопии
2.3. Определение плотности твердых материалов
2.4. Определение коэффициента линейного теплового расширения твердых материалов дилатометрическим методом
2.5. Определение модуля Юнга твердых материалов
2.6. Определение ударной вязкости различных материалов
2.7. Измерение твердости материалов
2.8. Определение зависимости удельного электрического сопротивления проводников и полупроводников от температуры
2.9. Определение диэлектрической проницаемости и тангенса угла диэлектрических потерь материалов на различных частотах
2.10. Изучение динамической петли магнитного гистерезиса магнитных материалов
3. Практические работы
3.1. Изучение требований государственных стандартов, действующих на различные вещества и материалы
3.2. Расчет плотности поликристаллических материалов рентгенографическим методом
3.3. Анализ диаграмм фазового равновесия двойных сплавов
3.4. Изучение диаграммы фазового равновесия сплавов системы «железо — цементит»
3.5. Расчет конструктивной прочности различных материалов
3.6. Коррозия и меры борьбы с ней
Литература

Отзывы

Все отзывы о книге Материаловедение : практикум

Чтобы оставить отзыв, зарегистрируйтесь или войдите

Отрывок из книги Материаловедение : практикум

46 Материаловедение: Практикум ренних напряжений в материале, которые часто приводят к дислокационным нарушениям и видимой трещиноватости. Цель лабораторной работы — определение параметров элементарной ячейки поликристаллических веществ и материалов с помощью рентгеновского структурного анализа. 1.1. Рентгеновский структурный анализ Рентгеновский структурный анализ — метод исследования волны я 1 А (10 нм), т.е. сопоставимой с размерами атомов. Кристаллические вещества обладают строгой периодичностью строения и представляют собой созданную самой природой дифракционную решетку для рентгеновского излучения. Ход двух пучков рентгеновских лучей через систему из двух атомных плоскостей в кристалле схематично изображен на рис. 2.1.1. Разность хода двух пучков равна 2Д. Так как Д = d sin 9, где d — расстояние между двумя соседними атомными плоскостями (межплоскостное расстояние), то разность хода равна 2Jsin8. Для образования конструктивной интерференции (т.е. для отражения пучков в одной фазе) разность хода должна равняться rik: где d — межплоскостное расстояние, А; к — длина волны рентгеновского излучения, А; 8 — угол падения (отражения) рентгеновских лучей, град.; п — порядок отражения (1, 2, 3, ...). 1. Метод испытаний Рис. 2.1.1. К выводу уравнения Вульфа — Брэгга атомной структуры вещества с использованием явления дифракции рентгеновских лучей. Дифракция рентгеновских лучей возникает при их взаимодействии с электронными оболочками атомов исследуемого вещества. Дифракционная картина зависит от длины волны используемого излучения и атомного строения объекта. Для исследования атомной структуры применяют излучение с длиной 2Jsin 8 = п X, (2.1.1)